Com uma palestra do ministro Luís Fernando Furlan, do Desenvolvimento, Indústria e Comércio, tendo como tema “A Metrologia e a competitividade no mercado globalizado”, será aberto hoje à noite, em Foz do Iguaçu, o Metrosul IV -Congresso Latino Americano de Metrologia. Promovido pela Rede Paranaense de Metrologia e Ensaios, o evento será todo realizado no Hotel Bourbon Cataratas e tem como tema central a “Metrologia e a Competitividade no Mercado Globalizado”.
A metrologia tem ocupado um lugar de destaque cada vez maior no desenvolvimento da sociedade, da economia e do comércio, diz o superintendente da Rede Paranaense de Metrologia e Ensaios, Celso Kloss. “Novas demandas nos campos da engenharia de precisão, da micro e nanotecnologia, da química, dos alimentos e do meio ambiente, entre outras, têm pressionado os organismos e instituições que atuam de forma direta no fornecimento de soluções técnicas e metrológicas, para atender uma sociedade cada vez mais industrializada e competitiva no mercado globalizado”, explica Kloss.
O Metrosul IV vai reunir, durante quatro dias, especialistas nacionais e internacionais para uma extensa programação que inclui palestras magnas, mesas redondas, reuniões de trabalho, diversos seminários nacionais e internacionais, minicursos e ainda uma mostra-feira de equipamentos, produtos e serviços para metrologia e ensaios.
Segundo Kloss, o Congresso tem por objetivo o fortalecimento da relação entre fornecedores e consumidores de bens e serviços tecnológicos, de maneira a incorporar e harmonizar funções básicas de competitividade: normalização, metrologia e avaliação de conformidade voltadas ao mercado globalizado. Ao final do evento será elaborada a “Carta de Foz do Iguaçu”, que servirá de documento norteador para todas as organizações e órgãos de formento relacionados com a área.
Especialistas internacionais
Além da presença do ministro Furlan, estarão participando do Metrosul IV o presidente da Federação das Indústrias do Estado do Paraná (Fiep), Rodrigo da Rocha Loures, o diretor do Departamento de Engenharia de Materiais da BAM (Alemanha), Pedro Dolabella Portella, o diretor da Divisão de Engenharia de Precisão do PTB (Alemanha), Klaus Hasche, e o diretor do Bureau National de Métrologie – BNM (França), Luc Erard.
Ainda, entre os convidados, destacam-se o presidente do Inmetro, Armando Mariante, o professor Ignácio Lira, Ph.D da Pontifícia Universidade Católica do Chile, o presidente da Sociedade Brasileira de Metrologia, Júlio Felix, e especialistas da Unicamp, Abimo, Anvisa, Fiocruz/INCQS, Inmetro, Labtelecom, Siemens, Cetesb, Senai, CNI, ABNT, entre outros.